OTDR常見曲線分析大全——測(cè)試人員必備
長(zhǎng)度測(cè)量
一般采用兩點(diǎn)法，，將受測(cè)光纖與尾纖一端相接，尾纖一端連到OTDR上，調(diào)整出顯示尾纖和受測(cè)光纖的后向散射峰。其曲線見圖
方法： 將光標(biāo)A置于第一個(gè)菲涅爾反射峰前沿，將光標(biāo)B置于第二個(gè)菲涅爾反射峰前沿，光標(biāo)A與光標(biāo)B之間的相對(duì)距離差就為被測(cè)光纖長(zhǎng)度。
光纖衰減的測(cè)試
典型的后向散射信號(hào)曲線
a、輸入端的Fresnel反射區(qū)（即盲區(qū)）
b、恒定斜率區(qū)
c、局部缺陷、接續(xù)或耦合引起的不連續(xù)性
d、光纖缺陷、二次反射余波等引起的反射
e、輸出端的Fresnel反射
盲區(qū)：決定OTDR所能測(cè)到最短距離和最接近距離，是由于活接頭的反射引起OTDR接收機(jī)飽和所至，盲區(qū)通常發(fā)生在OTDR面板前的活接頭反射，但也可以在光纖的其它地方發(fā)生，一般OTDR盲區(qū)為100m。
盲區(qū)分為衰減盲區(qū)和事件盲區(qū)
衰減盲區(qū)：從反射點(diǎn)開始至接收機(jī)恢復(fù)到后向散射電平約0.5dB范圍內(nèi)的這段距離,這段距離就是OTDR能再次測(cè)試衰減和損耗的點(diǎn).
式中：D的長(zhǎng)度就為衰減盲區(qū)的長(zhǎng)度
事件盲區(qū):從OTDR接收到反射點(diǎn)到開始到OTDR恢復(fù)到最高反射點(diǎn)1.5DB以下這段距離,在這以后才能發(fā)現(xiàn)是否還有第二個(gè)反射點(diǎn),但還不能測(cè)試衰減.
式中：D1的長(zhǎng)度就為事件盲區(qū)的長(zhǎng)度。
影響盲區(qū)的因素:
a、入射光的脈沖寬度、
b、反射光的脈沖寬度、
c、入射光的脈沖后端形狀、
d、所用脈沖越小，盲區(qū)越大。
消除盲區(qū)的方法：
加尾纖（過渡纖），最好2KM以上
接頭損耗的測(cè)量
方法：將光標(biāo)定于曲線的轉(zhuǎn)折處如圖位置，然后選擇測(cè)接頭損耗功能鍵，便可測(cè)得接頭損耗。
外部因素引起的可能曲線變化
波紋曲線圖
指曲線有與脈沖頻率相似的紋狀態(tài)曲線。其產(chǎn)生原因有可能是受測(cè)光纖工作頻率與帶寬頻率剛好相同,此情況下, 改變測(cè)試脈寬，同時(shí)應(yīng)從受測(cè)光纖的兩端進(jìn)行測(cè)量
實(shí)際在測(cè)試中最常見的異常曲線、原理和對(duì)策
現(xiàn)象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認(rèn)光纖長(zhǎng)度
原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質(zhì)量差；
對(duì)策：清洗光纖未端面或重新做端面；
現(xiàn)象：曲線成明顯弓形，衰減嚴(yán)重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰；
原因：量程設(shè)置錯(cuò)誤（不足被測(cè)光纖長(zhǎng)度2倍以上）；
對(duì)策：增大量程
現(xiàn)象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個(gè)“小山峰”（背向散射劇烈增強(qiáng)所致）
原因：（1）光纖本身質(zhì)量原因（小裂紋）；
（2）二次反射余波在前端面產(chǎn)生反射；
對(duì)策：在這種情況下改變光纖測(cè)試量程、脈寬、重新做端面，再測(cè)試如“小山峰”消失則為原因
（2），如不消失則為原因（1）
現(xiàn)象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷
原因：未端幾米或幾十米光纖受側(cè)壓；
對(duì)策：復(fù)繞觀察有無變化
正常曲線
A 為盲區(qū)， B 為測(cè)試末端反射峰。測(cè)試曲線為傾斜的，隨著距離的增長(zhǎng)，總損耗會(huì)越來越大。用總損耗（ dB ）除以總距離（ km ）就是該段纖芯的平均損耗（ dB/Km ）。
異常情況
原因：（1）儀表的尾纖沒有插好，光脈沖根本打不出去；
（2）斷點(diǎn)位置比較進(jìn)， OTDR 不足以測(cè)試出距離來；
方法：（1） 要檢查尾纖連接情況
（2） 把 OTDR 的設(shè)置改一下，把距離、脈沖調(diào)到最小，如果還是這種情 況的話，可以判斷 1 尾纖有問題；
如果是尾纖問題，更換尾纖。
非反射事件 (臺(tái)階)
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