OTDR是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產(chǎn)生的背向散射而制成的精密的光電一體化儀表，它被廣泛應用于光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。
OTDR測試是通過發(fā)射光脈沖到光纖內，然后在OTDR端口接收返回的信息來進行。當光脈沖在光纖內傳輸時，會由于光纖本身的性質、連接器、接合點、彎曲或其它類似的事件而產(chǎn)生散射、反射。其中一部分的散射和反射就會返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探測器來測量，它們就作為光纖內不同位置上的時間或曲線片斷。
從發(fā)射信號到返回信號所用的時間，再確定光在玻璃物質中的速度，就可以計算出距離。以下的公式就說明了OTDR是如何測量距離的。 d=(c×t)/2(IOR)在這個公式里，c是光在真空中的速度，而t是信號發(fā)射后到接收到信號（雙程）的總時間（兩值相乘除以2后就是單程的距離）。因為光在玻璃中要比在真空中的速度慢，所以為了精確地測量距離，被測的光纖必須要指明折射率（IOR）。IOR是由光纖生產(chǎn)商來標明。
OTDR使用瑞利散射和菲涅爾反射來表征光纖的特性。瑞利散射是由于光信號沿著光纖產(chǎn)生無規(guī)律的散射而形成。OTDR就測量回到OTDR端口的一部分散射光。這些背向散射信號就表明了由光纖而導致的衰減（損耗/距離）程度。形成的軌跡是一條向下的曲線，它說明了背向散射的功率不斷減小，這是由于經(jīng)過一段距離的傳輸后發(fā)射和背向散射的信號都有所損耗。
給定了光纖參數(shù)后，瑞利散射的功率就可以標明出來，如果波長已知，它就與信號的脈沖寬度成比例：脈沖寬度越長，背向散射功率就越強。瑞利散射的功率還與發(fā)射信號的波長有關，波長較短則功率較強。也就是說用1310nm信號產(chǎn)生的軌跡會比1550nm信號所產(chǎn)生的軌跡的瑞利背向散射要高。
在高波長區(qū)（超過1500nm），瑞利散射會持續(xù)減小，但另外一個叫紅外線衰減（或吸收）的現(xiàn)象會出現(xiàn)，增加并導致了全部衰減值的增大。因此，1550nm是最低的衰減波長；這也說明了為什么它是作為長距離通信的波長。很自然，這些現(xiàn)象也會影響到OTDR。作為1550nm波長的OTDR，它也具有低的衰減性能，因此可以進行長距離的測試。而作為高衰減的1310nm或1625nm波長，OTDR的測試距離就必然受到限制，因為測試設備需要在OTDR軌跡中測出一個尖鋒，而且這個尖鋒的尾端會快速地落入到噪音中。
另一方面，菲涅爾反射是離散的反射，它是由整條光纖中的個別點而引起的，這些點是由造成反向系數(shù)改變的因素組成，例如玻璃與空氣的間隙。在這些點上，會有很強的背向散射光被反射回來。因此，OTDR就是利用菲涅爾反射的信息來定位連接點，光纖終端或斷點。
大型的OTDR，就有能力完全、自動地識別出光纖的范圍。這種新的能力大部分是源于使用了高級的分析軟件，這種軟件對OTDR的采樣進行審查并創(chuàng)建一個事件表。這個事件表顯示了所有與軌跡有關的數(shù)據(jù)，如故障類型，到故障點的距離，衰減，回損和熔接損耗。
OTDR原理
1.1 瑞利后向散射
由于光纖本身的缺陷和摻雜組分的非均勻性，使得光纖中傳播的光脈沖發(fā)生瑞利散射。一部分光（大約有0.0001%〔1〕）沿脈沖相反的方向被散射回來，因而被稱為瑞利后向散射，后向散射光提供了與長度有關的衰減細節(jié)。
在不同折射率兩傳輸介質的邊界(如連接器、機械接續(xù)、斷裂或光纖終結處)會發(fā)生菲涅耳反射，此現(xiàn)象被OTDR用于準確確定沿光纖長度上不連續(xù)點的位置。反射的大小依賴于邊界表面的平整度及折射率差，利用折射率匹配液可減小菲涅耳反射。
1.2 OTDR結構方框圖
上圖2 是OTDR原理結構方框圖。
脈沖發(fā)生器發(fā)出寬度可調的窄脈沖驅動激光二極管(LD)，產(chǎn)生所需寬度的光脈沖(通常為 2ns～20μs)，經(jīng)方向耦合器后入射到被測光纖，光纖中的后向散射光和菲涅耳反射光經(jīng)耦合器進入光電探測器，光電探測器把接收到的散射光和反射光信號轉換成電信號，由放大器放大后送信號處理部件處理(包括取樣、模數(shù)轉換和平均)，結果由顯示部件顯示：縱軸表示功率電平，橫軸表示距離。時基與控制單元控制脈沖寬度、取樣和平均。
OTDR主要性能指標
對OTDR的性能參數(shù)的了解有助于OTDR的實際光纖測量。OTDR性能參數(shù)主要包括動態(tài)范圍、盲區(qū)、分辨率、精度等。
2.1 動態(tài)范圍(Dynamic range)
動態(tài)范圍是OTDR主要性能指標之一，它決定光纖的最大可測量長度。動態(tài)范圍越大，曲線線型越好，可測距離也越長。動態(tài)范圍目前還沒有一個統(tǒng)一的標準計算方法〔1〕，常用的動態(tài)范圍定義主要有以下四種：
①IEC定義(Bellcore)：常用的動態(tài)范圍定義之一。取始端后向散射電平與噪聲峰值電平間的dB差，測量條件為取OTDR最大脈沖寬度、180 秒的測量時間。
②RMS定義：最常用的動態(tài)范圍定義。取始端后向散射電平與RMS噪聲電平間的dB差。若噪聲電平呈高斯分布，則RMS的定義值比IEC定義值高約 1.56dB。
③N＝0.1dB定義：最實用的定義方法。取可以測量損耗為0.1dB事件時的最大允許衰減值。N＝0.1dB定義值比信噪比SNR＝1 的RMS定義值小大約6.6dB，這意味著若OTDR有 30dB的RMS動態(tài)范圍，則N＝0.1dB定義的動態(tài)范圍只有23.4dB，即只能在23.4dB衰減范圍內測量損耗為 0.1dB的事件。
④端探測(Enddetection)：光纖始端的4%菲涅耳反射峰與RMS噪聲電平的dB差，此值比IEC定義值高約 12dB。
2.2 盲區(qū)(Deadzone)
“盲區(qū)”又稱“死區(qū)”，是指受菲涅耳反射的影響，在一定的距離范圍內OTDR曲線無法反映光纖線路狀態(tài)的部分。此現(xiàn)象的出現(xiàn)主要是由于光纖鏈路上菲涅耳反射強信號使得光電探測器飽和，從而需要一定的恢復時間。盲區(qū)可發(fā)生在OTDR面板前的活結頭或光纖鏈路中其它有菲涅耳反射的地方。
Bellcore定義了兩種盲區(qū)〔2〕：衰減盲區(qū)(ADZ)和事件盲區(qū)(EDZ)。衰減盲區(qū)是指各自的損耗可以分別被測量時的兩反射事件間的最小距離，通常衰減盲區(qū)是 5～6倍的脈沖寬度(用距離表示)；事件盲區(qū)是指兩個反射事件仍可分辨的最小距離，此時到每個事件的距離可測，但每個事件各自的損耗不可測。
兩種盲區(qū)的定義可用下圖 4表示。
盲區(qū)的大小與脈沖寬度、反身系數(shù)、損耗等因素有關。脈寬越短，盲區(qū)越小，但短脈沖同時又減小了動態(tài)范圍，因此要在盲區(qū)和動態(tài)范圍之間折衷選擇脈寬。
2.3 分辨率(Resolution)
OTDR 有四種主要分辨率指標：取樣分辨率、顯示分辨率(又叫讀出分辨率)、事件分辨率和距離分辨率。取樣分辨率是兩取樣點之間最小距離，此指標決定了OTDR定位事件的能力。取樣分辨率與脈寬和距離范圍大小的選取有關。顯示分辨率是儀器可顯示的最小值。OTDR通過微處理系統(tǒng)將每個取樣間隔細分，使光標可在取樣間隔內移動，光標移動的最短距離為水平顯示分辨率、所顯示的最小衰減量垂直顯示分辨率。
事件分辨率是指 OTDR對被測鏈路中事件點的分辨門限，也就是事件域值(探測閾)，OTDR把小于這個閾值的事件變化當作曲線中斜率均勻變化點來處理。事件分辨率由光電二極管的分辨閾決定，根據(jù)兩接近的功率電平，指定可被測量的最小衰減。距離分辨率指儀器所能分辨的兩個相鄰事件點間的最短距離，此指標類似與事件盲區(qū)，與脈寬、折射率參數(shù)有關。
精度是OTDR的測量值與參考值的接近程度，包括衰減精度和距離精度。衰減精度主要是由光電二極管的線性度決定的，目前大多數(shù)OTDR的線性度可達0.02dB/dB。距離精度依賴于折射率誤差、時基誤差(10-4～10-5范圍內變動)以及取樣分辨率，在不考慮折射率誤差時，距離精度可用下式表達〔1〕：
距離精度＝±1m±5×10-5×距離±取樣分辨率
除以上幾種性能指標外，還包括波長、測量時間等指標。另外，大多數(shù) OTDR還提供曲線存儲、輸出端口等功能。
OTDR的使用
OTDR可執(zhí)行下面的測量：
*對每個事件：距離，損耗，反射
*對每個光纖段：段長，段損耗dB或dB/Km，段回波損耗(ORL)
*對整個終端系統(tǒng)：鏈長度，鏈損耗dB，鏈ORL
用OTDR進行光纖測量可分為三步：參數(shù)設置、數(shù)據(jù)獲取和曲線分析。
3.1 參數(shù)設置
大多數(shù)OTDR對待測光纖通過發(fā)射測試脈沖自動地選擇最佳的獲取參數(shù)，使用者只需選擇波長、獲取時間及必要的光纖參數(shù)(如折射率、散射系數(shù)等)。自動獲取參數(shù)需要一定的時間，因而，在已知測量條件下，操作者可人工選擇測量參數(shù)。
3.1.1波長選擇
光系統(tǒng)的行為與傳輸波長直接相關，不同的波長有各自不同的光纖衰減特性及光纖連接中不同的行為：同種光纖，1550nm比 1310nm光纖對彎曲更敏感、1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測得熔接或連接器損耗更高。為此，光纖測試應與系統(tǒng)傳輸?shù)牟ㄩL相同，這意味著1550nm光系統(tǒng)需選擇1550nm的波長。
3.1.2脈寬
脈寬控制OTDR注入光纖的光功率，脈寬越長，動態(tài)測量范圍越大，可用于測量更長距離的光纖，但長脈沖也將在OTDR曲線波形中產(chǎn)生更大的盲區(qū)；短脈沖注入光平低，但可減小盲區(qū)。脈寬周期通常以ns來表示，也可根據(jù)公式(4)用長度單位(m)來表示。例如100ns脈沖可以解釋為“10m”脈沖。
3.1.3測量范圍
OTDR測量范圍是指OTDR獲取數(shù)據(jù)取樣的最大距離，此參數(shù)的選擇決定了取樣分辨率的大小。測量范圍通常設置為待測光纖長度 1～2倍距離之間。
3.1.4平均時間
由于后向散射光信號極其微弱，一般采用統(tǒng)計平均的方法來提高信噪比，平均時間越長，信噪比越高。例如，3min的獲得取將比1min的獲得取提高0.8dB的動態(tài)。但超過10min的獲得取時間對信噪比的改善并不大。一般平均時間不超過3min。
3.1.5光纖參數(shù)
光纖參數(shù)的設置包括折射率n和后向散射系數(shù)η的設置。折射率參數(shù)與距離測量有關，后向散射系數(shù)則影響反射與回波損耗的測量果。這兩個參數(shù)通常由光纖生產(chǎn)廠家給出，對于大多數(shù)種類的光纖來說，表2給出的折射率和后向散射系數(shù)可以得到較為準確的距離和回損測量結果。
經(jīng)驗與技巧
(1)光纖質量的簡單判別：
正常情況下，OTDR測試的光線曲線主體(單盤或幾盤光纜)斜率基本一致，若某一段斜率較大，則表明此段衰減較大；若曲線主體為不規(guī)則形狀，斜率起伏較大，彎曲或呈弧狀，則表明光纖質量嚴重劣化，不符合通信要求。
(2)波長的選擇和單雙向測試：
1550波長測試距離更遠，1550nm比1310nm光纖對彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。在實際的光纜維護工作中一般對兩種波長都進行測試、比較。對于正增益現(xiàn)象和超過距離線路均須進行雙向測試分析計算，才能獲得良好的測試結論。
(3)接頭清潔：
光纖活接頭接入OTDR前，必須認真清洗，包括OTDR的輸出接頭和被測活接頭，否則插入損耗太大、測量不可靠、曲線多噪音甚至使測量不能進行，它還可能損壞OTDR。避免用酒精以外的其它清洗劑或折射率匹配液，因為它們可使光纖連接器內粘合劑溶解。
(4)折射率與散射系數(shù)的校正：就光纖長度測量而言，折射系數(shù)每0.01的偏差會引起7m/km之多的誤差，對于較長的光線段，應采用光纜制造商提供的折射率值。
(5)鬼影的識別與處理：
在OTDR曲線上的尖峰有時是由于離入射端較近且強的反射引起的回音，這種尖峰被稱之為鬼影。 識別鬼影：曲線上鬼影處未引起明顯損耗；沿曲線鬼影與始端的距離是強反射事件與始端距離的倍數(shù)，成對稱狀。消除鬼影：選擇短脈沖寬度、在強反射前端(如OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位于光纖終結，可'打小彎'以衰減反射回始端的光。
(6)正增益現(xiàn)象處理：
在OTDR曲線上可能會產(chǎn)生正增益現(xiàn)象。正增益是由于在熔接點之后的光纖比熔接點之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現(xiàn)在不同模場直徑或不同后向散射系數(shù)的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量并對結果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纜維護中，也可采用≤0.08dB即為合格的簡單原則。
(7)附加光纖的使用：
附加光纖是一段用于連接OTDR與待測光纖、長300～2000m的光纖，其主要作用為：前端盲區(qū)處理和終端連接器插入測量。
一般來說，OTDR與待測光纖間的連接器引起的盲區(qū)最大。在光纖實際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區(qū)落在過渡光纖內，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩(wěn)定區(qū)。光纖系統(tǒng)始端連接器插入損耗可通過OTDR加一段過渡光纖來測量。如要測量首、尾兩端連接器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。
測試誤差的主要因素
1)OTDR測試儀表存在的固有偏差
由OTDR的測試原理可知，它是按一定的周期向被測光纖發(fā)送光脈沖，再按一定的速率將來自光纖的背向散射信號抽樣、量化、編碼后，存儲并顯示出來。OTDR儀表本身由于抽樣間隔而存在誤差，這種固有偏差主要反映在距離分辯率上。OTDR的距離分辯率正比于抽樣頻率。
2)測試儀表操作不當產(chǎn)生的誤差
在光纜故障定位測試時，OTDR儀表使用的正確性與障礙測試的準確性直接相關，儀表參數(shù)設定和準確性、儀表量程范圍的選擇不當或光標設置不準等都將導致測試結果的誤差。
（1） 設定儀表的折射率偏差產(chǎn)生的誤差
不同類型和廠家的光纖的折射率是不同的。使用OTDR測試光纖長度時，必須先進行儀表參數(shù)設定，折射率的設定就是其中之一。當幾段光纜的折射率不同時可采用分段設置的方法，以減少因折射率設置誤差而造成的測試誤差。
（2） 量程范圍選擇不當
OTDR儀表測試距離分辯率為1米時，它是指圖形放大到水平刻度為25米/格時才能實現(xiàn)。儀表設計是以光標每移動25步為1滿格。在這種情況下，光標每移動一步，即表示移動1米的距離，所以讀出分辯率為1米。如果水平刻度選擇2公里/每格，則光標每移動一步，距離就會偏移80米。由此可見，測試時選擇的量程范圍越大，測試結果的偏差就越大。
（3） 脈沖寬度選擇不當
在脈沖幅度相同的條件下，脈沖寬度越大，脈沖能量就越大，此時OTDR的動態(tài)范圍也越大，相應盲區(qū)也就大。
（4） 平均化處理時間選擇不當
OTDR測試曲線是將每次輸出脈沖后的反射信號采樣，并把多次采樣做平均處理以消除一些隨機事件，平均化時間越長，噪聲電平越接近最小值，動態(tài)范圍就越大。平均化時間越長，測試精度越高，但達到一定程度時精度不再提高。為了提高測試速度，縮短整體測試時間，一般測試時間可在0.5~3分鐘內選擇。
（5） 光標位置放置不當
光纖活動連接器、機械接頭和光纖中的斷裂都會引起損耗和反射，光纖末端的破裂端面由于末端端面的不規(guī)則性會產(chǎn)生各種菲涅爾反射峰或者不產(chǎn)生菲涅爾反射。如果光標設置不夠準確，也會產(chǎn)生一定誤差。
OTDR常見曲線分析
1、長度測量
一般采用兩點法，將受測光纖與尾纖一端相接，尾纖一端連到OTDR上，調整出顯示尾纖和受測光纖的后向散射峰。其曲線見圖
方法： 將光標A置于第一個菲涅爾反射峰前沿，將光標B置于第二個菲涅爾反射峰前沿，光標A與光標B之間的相對距離差就為被測光纖長度。
2、光纖衰減的測試
方法：將光標A置于第一個菲涅爾反射峰后沿，曲線平滑的起點，將光標B置于第二個菲涅爾反射峰前沿，光標A與光標B間顯示衰減系數(shù)就是光纖A、B間衰減系數(shù)，但非整根光纖的衰減系數(shù)。
3、典型的后向散射信號曲線
a、輸入端的Fresnel反射區(qū)（即盲區(qū)）
b、恒定斜率區(qū)
c、局部缺陷、接續(xù)或耦合引起的不連續(xù)性
d、光纖缺陷、二次反射余波等引起的反射
e、輸出端的Fresnel反射
4、盲區(qū)
決定OTDR所能測到最短距離和最接近距離，是由于活接頭的反射引起OTDR接收機飽和所至，盲區(qū)通常發(fā)生在OTDR面板前的活接頭反射，但也可以在光纖的其它地方發(fā)生，一般OTDR盲區(qū)為100m。
盲區(qū)分為衰減盲區(qū)和事件盲區(qū)
衰減盲區(qū)：從反射點開始至接收機恢復到后向散射電平約0.5dB范圍內的這段距離,這段距離就是OTDR能再次測試衰減和損耗的點.
式中：D的長度就為衰減盲區(qū)的長度
事件盲區(qū):從OTDR接收到反射點到開始到OTDR恢復到最高反射點1.5DB以下這段距離,在這以后才能發(fā)現(xiàn)是否還有第二個反射點,但還不能測試衰減.
式中：D1的長度就為事件盲區(qū)的長度。
影響盲區(qū)的因素:
a、入射光的脈沖寬度、
b、反射光的脈沖寬度、
c、入射光的脈沖后端形狀、
d、所用脈沖越小，盲區(qū)越大。
消除盲區(qū)的方法：
加尾纖（過渡纖），最好2KM以上
5、接頭損耗的測量
方法：將光標定于曲線的轉折處如圖位置，然后選擇測接頭損耗功能鍵，便可測得接頭損耗。
6、外部因素引起的可能曲線變化
這里的外部因素指施加于光纜并傳遞至光纖的張力及側向受力，還有溫度的變化。這些都會造成曲線弓形彎曲。外部因素引起的弓形彎曲在外力作用下使曲線斜率改變。如圖所示，外力作用前曲線斜率恒定，在外力作用下可出現(xiàn)如下情況之一：
波紋曲線圖
指曲線有與脈沖頻率相似的紋狀態(tài)曲線。其產(chǎn)生原因有可能是受測光纖工作頻率與帶寬頻率剛好相同,此情況下, 改變測試脈寬，同時應從受測光纖的兩端進行測量
實際在測試中最常見的異常曲線、原理和對策
現(xiàn)象：光纖未端無菲涅爾反射峰，曲線斜率、衰減正常，無法確認光纖長度
原因：光纖未端面上比較臟或光纖端面質量差；
對策：清洗光纖未端面或重新做端面；
現(xiàn)象：曲線成明顯弓形，衰減嚴重偏大或偏小，無菲涅爾反射峰；
原因：量程設置錯誤（不足被測光纖長度2倍以上）；
對策：增大量程
現(xiàn)象：在曲線斜率恒定的曲線中間有一個“小山峰”（背向散射劇烈增強所致）
原因：
（1）光纖本身質量原因（小裂紋）；
（2）二次反射余波在前端面產(chǎn)生反射；
對策：在這種情況下改變光纖測試量程、脈寬、重新做端面，再測試如“小山峰”消失則為原因（2），如不消失則為原因（1）
現(xiàn)象：在光纖纖連接器、耦合器、熔接點處產(chǎn)生一個明顯的增益；
原因：模場直徑不匹配造成的；
對策：測試衰減和接頭損耗必須雙向測試，取平均值
現(xiàn)象：曲線斜率正常，光纖均勻性合格，但兩端光纖衰減系數(shù)相差很大
原因：模場不均勻造成，一般為光纖拉絲引頭和結尾部分；
對策：測試衰減必須雙向測試，取平均值
現(xiàn)象：在整根光纖衰減合格，曲線大部分斜率均勻，但在菲涅爾反射峰前沿有一小凹陷
原因：未端幾米或幾十米光纖受側壓；
對策：復繞觀察有無變化
現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本不變，衰減指標略微偏高，但1550nm光纖衰減斜率增加，衰減指標偏高；
原因：束管內余長過短，光纖受拉伸；
對策：確認束管內的余長，增加束管內的余長
現(xiàn)象：1310nm光纖曲線平滑，光纖衰減斜率基本正常，衰減指標正常，但1550nm光纖衰減斜率嚴重不良，衰減指標嚴重偏高；
原因：束管內余長過長，光纖彎曲半徑過小；
對策：確認束管內的余長，減少束管內的余長
現(xiàn)象：尾纖與過渡纖有部分曲線出現(xiàn)有規(guī)則的曲線不良，但被測光纖后半部分曲線正常，整根被測光纖衰減指標基本正常；
原因：一般是由設備本身和測試方法綜合造成的；
對策：關機，重新起動，對各個光纖接觸部分進行清潔
正常曲線
A 為盲區(qū)， B 為測試末端反射峰。測試曲線為傾斜的，隨著距離的增長，總損耗會越來越大。用總損耗（ dB ）除以總距離（ km ）就是該段纖芯的平均損耗（ dB/Km ）。
異常情況
原因：
（1）儀表的尾纖沒有插好，光脈沖根本打不出去；
（2）斷點位置比較進， OTDR 不足以測試出距離來；
方法：
（1） 要檢查尾纖連接情況
（2） 把 OTDR 的設置改一下，把距離、脈沖調到最小，如果還是這種情 況的話，可以判斷 1 尾纖有問題； 如果是尾纖問題，更換尾纖。
非反射事件 (臺階)
這種情況比較多見，曲線中間出現(xiàn)一個明顯的臺階，多數(shù)為該纖芯打折，彎曲過小，受到外界損傷等因素造成。
曲線遠端沒有反射峰
這種情況一定要引起注意！曲線在末端沒有任何反射峰就掉下去了，如果知道纖芯原來的距離，在沒有到達纖芯原來的距離，曲線就掉下去了，這說明光纖在曲線掉下去的地方斷了，或者是光纖遠端端面質量不好。
測試距離過長
這種情況是出現(xiàn)在測試長距離的纖芯時， OTDR 所不能達到的距離所產(chǎn)生的情況，或者是距離、脈沖設置過小所產(chǎn)生的情況。如果出現(xiàn)這種情況， OTDR 的距離、脈沖又比較小的話，就要把距離、脈沖調大，以達到全段測試的目的，稍微加長測試時間也是一種辦法。
幻峰（鬼影）的識別與處理
幻峰（鬼影）的識別曲線上鬼影處未引起明顯損耗圖（a）；沿曲線鬼影與始端的距離是強反射事件與始端距離的倍數(shù)，成對稱狀圖（b）
消除幻峰（鬼影）選擇短脈沖寬度、在強反射前端(如OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位于光纖終結，可'打小彎'以衰減反射回始端的光。
正增益現(xiàn)象處理
正增益是由于在熔接點之后的光纖比熔接點之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現(xiàn)在不同模場直徑或不同后向散射系數(shù)的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量并對結果取平均值作為該熔接損耗。
以上是我們在使用OTDR測試時經(jīng)常看到的測試曲線并作簡要分析，供讀者參考。在故障維修中根據(jù)測試曲線特點就能準確判斷光纖是否斷裂、彎曲直徑是否過小、熔接點是否有缺陷及障礙點具體位置等。測試人員要靈活應用OTDR測試，不斷提高對其操作技能與分析判斷水平，才能更好地應對現(xiàn)實工作中有關光鏈路系統(tǒng)的各類繁雜情況，實現(xiàn)有效測量、準確判斷、快速定位，及時排除。
